Radiografía que dispersa técnicas
Radiografía que dispersa técnicas es una familia de analítico no destructivo técnicas cuáles revelan la información sobre cristalográfico estructura, composición química, y características físicas de materiales y de películas finas. Estas técnicas se basan en la observación dispersado intensidad de radiografía emita golpear una muestra en función de incidente y ángulo, polarización, y longitud de onda o energía dispersada.
Técnicas de la difracción de radiografía
La difracción de radiografía encuentra la geometría o la forma de una molécula usando radiografías. Radiografía difracción las técnicas se basan en elástico dispersión de radiografías de las estructuras que tienen orden de la gama larga. The most comprehensive description of scattering from crystals is given by the teoría dinámica de la difracción. [1]
- difracción de radiografía del Solo-cristal es una técnica usada para solucionar la estructura completa de materiales cristalinos, extendiéndose de simple sólidos inorgánicos al complejo macromoléculas, por ejemplo proteínas.
- Difracción del polvo (XRD) es una técnica usada para caracterizar la estructura cristalográfica, cristalito tamaño (tamaño de grano), y orientación preferida en muestras sólidas polycrystalline o pulverizadas. La difracción del polvo es de uso general identificar sustancias desconocidas, comparando datos de la difracción contra una base de datos mantenida por Centro internacional para los datos de la difracción. Puede también ser utilizado para caracterizar mezclas sólidas heterogéneas para determinar la abundancia relativa de compuestos cristalinos y, cuando está juntado con técnicas del refinamiento del enrejado, por ejemplo Refinamiento de Rietveld, puede proporcionar la información estructural en los materiales desconocidos. La difracción del polvo es también un método común para determinarse tensiones en materiales cristalinos.
- La difracción de la película fina y el pasto de la difracción de radiografía de la incidencia se pueden utilizar para caracterizar la estructura cristalográfica y la orientación preferida de películas finas substrato-ancladas.
- La difracción de radiografía de alta resolución se utiliza para caracterizar grueso, la estructura cristalográfica, y la tensión en películas epitaxial finas. Emplea la óptica de la paralelo-viga.
- Radiografía figura del poste el análisis permite a uno analizar y determinar la distribución de orientaciones cristalinas dentro de una muestra thin-film cristalina.
- El análisis oscilante de la curva de la radiografía se utiliza para cuantificar el tamaño y el mosaico de grano separados en materiales cristalinos.
Dispersión de técnicas
Difusión elástica
Los materiales que no tienen orden de la gama larga pueden también ser estudiados dispersando los métodos que confían encendido elástico dispersión de radiografías monocromáticas.
Dispersión inelástica
Cuando la energía y el ángulo del inelastically las radiografías dispersadas se supervisan que dispersan técnicas se pueden utilizar sondar estructura electrónica de la venda de materiales.
- Dispersión de Compton
- Dispersión inelástica resonante de la radiografía (RIXS)
- Dispersión de Raman de la radiografía
Fabricantes de la difracción de radiografía y del equipo de la dispersión
Referencias
- ^ Azároff, L. V.; R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson, R. A. Young (1974). Difracción de radiografía. McGraw-Colina.
- ^ Glatter, O.; O. Kratky (1982). Dispersión pequeña de la radiografía del ángulo. Presión académica.
Vea también
Acoplamientos externos
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